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锥形封头和凸形封头的薄膜应力分析

　　凸形封头和锥形封头都是回转壳体,壳体上任一点的环向应力和经向应力,都是根据薄膜应力理论用静力平衡的方法得出的。根据限制薄膜应力的强度条件,很容易导出各种封头壁厚Sc的计算公式。但是,在确定封头壁厚时仅考虑薄膜应力是不够的，如前节应力分析中所述,封头与简体连接处存在着边缘应力,而且有些封头的母线本身就不连续也会引起边缘应力。
　　此外,封头上大都要开孔,因此也不能不考虑开孔处的应力集中。所以,在封头的壁厚计算中,除了考虑薄膜应力外，同时还应考虑连接边缘处的边缘应力和应力集中的影响。薄膜应力是遍布于整个封头的基本应力,属于一次应力,故而大多数封头的壁厚计算公式都是以薄膜应力为基础来推导的。连接边缘处的边缘应力,属于二次应力,则采取在公式引入一个应力增强系数,来反映边缘应力的影响。在开孔处由于应力集中而出现的局部峰值应力,常采取在开孔处进行局部补强的办法来解决。

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